SPT

Silicon Pixel Telescope (SPT)

The experiment Silicon Pixel Telescope (SPT) is devoted to the measurement of double electron capture (EC/EC) in ¹⁰⁶Cd and application of advanced detection technique, pixel detectors, in double beta decay. Pixel detectors made of Si or CdTe provide the ability to distinguish different types of radiation (alphas, gammas, muons, electrons) due to the shape of track. Group of IEAP, CTU in Prague has developed a low background face-to-face stack of pixel detectors, which are gradually being installed in the sophisticated shielding at LSM.

L'expérience Silicon Pixel Telescope (SPT) est consacrée à la mesure de la double capture électronique (EC/EC) dans le cadmium 106 (¹⁰⁶Cd) et l'application de technique de détection avancée en double désintégration bêta avec des détecteurs pixélisés. Les détecteurs pixélisés en Si (silicium) ou CdTe (tellurure de cadmium) offrent la possibilité de distinguer les différents types de rayonnements (alphas, gammas, muons, électrons) grâce à la forme de la trace (cf fig 2).

L'équipe de l'IEAP CTU à Prague a développé un empilement de détecteurs pixélisés face-à-face avec un faible bruit de fond, qui sont progressivement installés dans le blindage sophistiqué au LSM.

Figure 1 : SPT unit comprised of four units of SPT detection units

Fgure 1 : Unité SPT composée de quatre unités de détection SPT

Figure 2 Different particle tracks registered by pixel detector

Figure 2 Différentes traces de particules enregistrées par le détecteur pixélisé

Figure 3 Shielding used for SPT experiment (8 cm of Borated Polyethylene, 10 cm Pb, 2 cm Cu)

Figure 3 Blindage utilisé pour l'expérience SPT (8 cm de Polyethylene boré, 10 cm Plomb, 2 cm Cuivre)

Contacts

Doc. Ing. Štekl Ivan, CSc.

IEAP, CTU in Prague

Horská 3a/22, 128 00 Praha 2

Phone: +420 224 359 373

E-mail: ivan.stekl@utef.cvut.cz

Ing. Joshy Madathiparambil Jose, PhD.

Phone number: +420 224 359 341

E-mail: joshy.mjose@utef.cvut.cz